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環境コンサルティング
異物分析･調査サービス
異物分析･調査サービスとは？
当社では、環境モニタリングサービスを拡充する中で、ご客様から設備や施設などにおける未知の異物等についての分析を依頼されることが多くなりました。
これらの異物について詳細な分析を行い、その組成や性状を把握し、異物の生成プロセスを明らかにするとともに、必要に応じてその異物の生成を防止あるいは抑制する方策を提案する「異物分析・調査サービス」を、環境コンサルティングサービスとして開始しました。
これまでに対応した異物分析の事例は以下のとおりです。
・建物の外壁の汚れの原因
・タンク沈殿物の物質特定（未知試料の同定）
・ストレーナー付着物の特定（組成分析）と生成プロセス
・配管閉塞物･付着物の特定（定性・同定）と生成プロセス
・排水口の堆積･沈殿物の特定
・浮遊粉塵物の成分特定 etc
これらの異物について詳細な分析を行い、その組成や性状を把握し、異物の生成プロセスを明らかにするとともに、必要に応じてその異物の生成を防止あるいは抑制する方策を提案する「異物分析・調査サービス」を、環境コンサルティングサービスとして開始しました。
これまでに対応した異物分析の事例は以下のとおりです。
・建物の外壁の汚れの原因
・タンク沈殿物の物質特定（未知試料の同定）
・ストレーナー付着物の特定（組成分析）と生成プロセス
・配管閉塞物･付着物の特定（定性・同定）と生成プロセス
・排水口の堆積･沈殿物の特定
・浮遊粉塵物の成分特定 etc
異物分析･調査サービスの内容･手順
＜サービス内容と手順＞
基本的な異物分析・調査のフロー（例）を以下に示します。異物発生に関する情報収集を行い、対象物質の性状に合わせ、様々な機器分析（SEM-EDS、EDX、FT-IR、GC-MS、HPLC、ICP-MS、ICP-AESなど）を行います。
基本的な異物分析・調査のフロー（例）を以下に示します。異物発生に関する情報収集を行い、対象物質の性状に合わせ、様々な機器分析（SEM-EDS、EDX、FT-IR、GC-MS、HPLC、ICP-MS、ICP-AESなど）を行います。
1.情報収集：発生した異物の状況確認（基本サービス）
当社のスタッフが、異物を確認した状況、周辺等の環境など、以下に示す問診票等を用いてヒアリングを実施します。また必要に応じて現地確認を行います。
当社のスタッフが、異物を確認した状況、周辺等の環境など、以下に示す問診票等を用いてヒアリングを実施します。また必要に応じて現地確認を行います。
問診票事例
問診票(標準帳票)
2.異物の採取・分析（基本サービス）
SEM/EDX/FTIRなどの機器を用いた分析によって、異物の成分特定を行います。
SEM/EDX/FTIRなどの機器を用いた分析によって、異物の成分特定を行います。
蛍光X線（EDX）分析
物質にX線を照射すると、物質を構成する元素固有のエネルギー(波長)を持つ蛍光X線(特性X線)が発生します。この蛍光X線のエネルギーを測定すると含有されている元素が分かり(定性分析)、各元素の蛍光X線の強さから濃度を計算する(定量分析)ことができます。
このように未知の物質にX線を照射し、そこから発生する蛍光X線を測定することで、物質の定性あるいは定量分析を行なう方法を蛍光X線分析法といいます。
物質にX線を照射すると、物質を構成する元素固有のエネルギー(波長)を持つ蛍光X線(特性X線)が発生します。この蛍光X線のエネルギーを測定すると含有されている元素が分かり(定性分析)、各元素の蛍光X線の強さから濃度を計算する(定量分析)ことができます。
このように未知の物質にX線を照射し、そこから発生する蛍光X線を測定することで、物質の定性あるいは定量分析を行なう方法を蛍光X線分析法といいます。
蛍光X線（EDX）分析状況
フ－リエ変換赤外分光光度計（FT-IR）分析
ライブラリ検索を用いて情報を取得し、物質の推定を行います。物質に赤外光を照射し、透過または反射した光量を測定します。赤外光は、分子結合の振動や回転運動のエネルギーとして吸収されるため、分子の構造や官能基の情報をスペクトルから得ることができ、物質定性・同定に関する有効な情報を得ることができます。
ライブラリ検索を用いて情報を取得し、物質の推定を行います。物質に赤外光を照射し、透過または反射した光量を測定します。赤外光は、分子結合の振動や回転運動のエネルギーとして吸収されるため、分子の構造や官能基の情報をスペクトルから得ることができ、物質定性・同定に関する有効な情報を得ることができます。
炭酸カルシウム（例）
電子顕微鏡(SEM-EDS）分析
走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope;SEM)は電子線を利用して試料表面の拡大像を観察する装置ですが、エネルギー分散型X線分析装置(EDS)と組み合わせて特性X線を検出することにより、特定箇所の元素分析を行います。
走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope;SEM)は電子線を利用して試料表面の拡大像を観察する装置ですが、エネルギー分散型X線分析装置(EDS)と組み合わせて特性X線を検出することにより、特定箇所の元素分析を行います。
3.発生原因の推定（オプションサービス）
異物の発生状況、周辺環境及び特定された成分などから異物の発生原因を推定いたします。
異物の発生状況、周辺環境及び特定された成分などから異物の発生原因を推定いたします。
4.異物の発生防止策及び抑制策の提案（オプションサービス）
異物の発生原因から発生防止策･抑制策をご提案いたします。
本サービスにご関心がある方、本サービスの依頼を希望される方は、最寄りの弊社営業拠点にお電話、担当者宛にメールもしくは、お問い合わせフォームからお気軽にお問い合わせください。
異物の発生原因から発生防止策･抑制策をご提案いたします。
本サービスにご関心がある方、本サービスの依頼を希望される方は、最寄りの弊社営業拠点にお電話、担当者宛にメールもしくは、お問い合わせフォームからお気軽にお問い合わせください。